ISO 15932:2013由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2013-12。
ISO 15932:2013 在中国标准分类中归属于: N32 放大镜与显微镜,在国际标准分类中归属于: 01.040.37 成像技术 (词汇),37.020 光学设备。
本标准有修改采用的 中文版 GB/T 40300-2021 微束分析 分析电子显微学 术语
ISO 15932:2013 微光束分析.分析电子显微镜.词汇的最新版本是哪一版?
最新版本是 ISO 15932:2013 。
本国际标准定义了 AEM 实践中使用的术语。 它涵盖了一般概念和特定概念,并根据其层次结构以系统顺序进行分类。 本国际标准适用于与AEM实践相关的所有标准化文件。 此外,本国际标准的某些部分适用于那些与相关领域(例如TEM、STEM、SEM、EPMA、EDX)实践相关的文件,以定义这些领域通用的术语。
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此外, 扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合, 可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。...
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