ISO 17470:2014
微束分析. 电子探针微量分析. 用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
ISO 17470:2014 发布历史
ISO 17470:2014由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2014-01。
ISO 17470:2014在国际标准分类中归属于: 71.040.99 有关分析化学的其他标准。
ISO 17470:2014 发布之时，引用了标准
- ISO 14594:2003 微电子束分析.电子探测微观分析.波长色散光谱学用实验参数的测定指南
ISO 17470:2014的历代版本如下：
- 2014年 ISO 17470:2014 微束分析. 电子探针微量分析. 用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
- 2004年 ISO 17470:2004 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法分析质量点的指南
本国际标准通过分析使用波长色散 X 射线光谱仪在仪器上获得的 X 射线光谱，为元素识别和样品中特定体积（微米级）内特定元素的存在情况的研究提供了指导。 电子探针微量分析仪或扫描电子显微镜。
