ISO 17470:2014
微束分析. 电子探针微量分析. 用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
- 标准号
- ISO 17470:2014
- 发布
- 2014年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 17470:2014
- 引用标准
- ISO 14594:2003
- 适用范围
- 本国际标准通过分析使用波长色散 X 射线光谱仪在仪器上获得的 X 射线光谱，为元素识别和样品中特定体积（微米级）内特定元素的存在情况的研究提供了指导。 电子探针微量分析仪或扫描电子显微镜。
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