SJ/T 11470-2014
发光二极管外延片

Epitaxial wafers of light-emitting diodes

SJT11470-2014, SJ11470-2014


SJ/T 11470-2014 中,可能用到以下仪器

 

深紫外光电二极管

深紫外光电二极管

江阴韵翔光电技术有限公司

 

标准号
SJ/T 11470-2014
别名
SJT11470-2014
SJ11470-2014
发布
2014年
发布单位
行业标准-电子
当前最新
SJ/T 11470-2014
 
 
引用标准
GB/T 14264-2009 GB/T 2828.1-2003 SJ/T 11395-2009 SJ/T 11396-2009 SJ/T 11471-2014
本标准规定了可见光发光二极管外延片(以下简称外延片)的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和储存。本标准适用于镓砷磷系、镓铝砷系、铝镓铟磷系及铝镓铟氮系外延片。

SJ/T 11470-2014相似标准


SJ/T 11470-2014 中可能用到的仪器设备


谁引用了SJ/T 11470-2014 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号