IEC/TS 62132-9-2014 集成电路.电磁抗扰性的测量.第9部分:辐射抗扰性的测量.表面扫描法发布历史

IEC/TS 62132-9-2014由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2014-08-01。

IEC/TS 62132-9-2014 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

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标准号: IEC/TS 62132-9-2014
发布日期: 2014年08月01日
实施日期
废止日期: 无
中国标准分类号: L56
国际标准分类号: 31.200
发布单位: IX-IEC
引用标准: IEC 60050-55-1970 IEC 60050-101-1998 IEC 60050-102-2007 IEC 60050-103-2009 IEC 60050-111-1996 IEC 60050-111 AMD 1-2005 IEC 60050-112-2010 IEC 60050-113-2011 IEC 60050-113 Corrigendum 1-2011 IEC 60050-114-2014 IEC 60050-121-1998 IEC 60050-121 AMD 1-2002 IE
被代替标准: IEC 47A/924/DTS-2014

IEC/TS 62132-9-2014集成电路.电磁抗扰性的测量.第9部分:辐射抗扰性的测量.表面扫描法