IEC TS 62132-9:2014
集成电路.电磁抗扰性的测量.第9部分:辐射抗扰性的测量.表面扫描法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method
- 标准号
- IEC TS 62132-9:2014
- 发布
- 2014年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC TS 62132-9:2014
- 引用标准
- IE IEC 60050-101:1998 IEC 60050-102:2007 IEC 60050-103:2009 IEC 60050-111 AMD 1:2005 IEC 60050-111:1996 IEC 60050-112:2010 IEC 60050-113 Corrigendum 1:2011 IEC 60050-113:2011 IEC 60050-114:2014 IEC 60050-121 AMD 1:2002 IEC 60050-121:1998 IEC 60050-55:1970
- 被代替标准
- IEC 47A/924/DTS:2014
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