SJ/T 2354-2015
PIN、雪崩光电二极管测试方法
Measuring methods for photodiodes of PIN、APD
SJT2354-2015, SJ2354-2015
SJ/T 2354-2015 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- SJ/T 2354-2015
- 别名
- SJT2354-2015
SJ2354-2015 - 发布
- 2015年
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 当前最新
- SJ/T 2354-2015
- 被代替标准
- SJ/T 2354.1-1983 SJ/T 2354.2-1983 SJ/T 2354.3-1983 SJ/T 2354.4-1983 SJ/T 2354.5-1983 SJ/T 2354.6-1983 SJ/T 2354.7-1983 SJ/T 2354.8-1983 SJ/T 2354.9-1983 SJ/T 2354.10-1983 SJ/T 2354.11-1983 SJ/T 2354.12-1983 SJ/T 2354.13-1983 SJ/T 2354.14-1983
- 本标准规定了PIN、雪崩光电二极管(以下简称“二极管”)光电参数的测试方法。
SJ/T 2354-2015相似标准
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