SJ/T 2354-2015
PIN、雪崩光电二极管测试方法
Measuring methods for photodiodes of PIN、APD
SJT2354-2015, SJ2354-2015
SJ/T 2354-2015 发布历史
SJ/T 2354-2015由行业标准-电子 CN-SJ 发布于 2015-04-30，并于 2015-10-01 实施。
SJ/T 2354-2015 在中国标准分类中归属于: L54 半导体光敏器件，在国际标准分类中归属于: 31.180 印制电路和印制电路板。
SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法的最新版本是哪一版？
最新版本是 SJ/T 2354-2015 。
SJ/T 2354-2015的历代版本如下：
- 2015年 SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法
- 0000年 SJ/T 2354.14-1983
本标准规定了PIN、雪崩光电二极管(以下简称“二极管”)光电参数的测试方法。
- 标准号
- SJ/T 2354-2015
- 别名
- SJT2354-2015
SJ2354-2015 - 发布
- 2015年
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 当前最新
- SJ/T 2354-2015
- 被代替标准
- SJ/T 2354.1-1983 SJ/T 2354.2-1983 SJ/T 2354.3-1983 SJ/T 2354.4-1983 SJ/T 2354.5-1983 SJ/T 2354.6-1983 SJ/T 2354.7-1983 SJ/T 2354.8-1983 SJ/T 2354.9-1983 SJ/T 2354.10-1983 SJ/T 2354.11-1983 SJ/T 2354.12-1983 SJ/T 2354.13-1983 SJ/T 2354.14-1983
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