ASTM E1250-15
评定硅电子器件辐射强度试验用钴60辐射源的低能伽马成分的电离箱应用的标准试验方法
Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices
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- 标准号
- ASTM E1250-15
- 发布
- 2015年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM E1250-15(2020)
- 当前最新
- ASTM E1250-15(2020)
- 引用标准
- ASTM E1249 ASTM E170 ASTM E668
- 1.17 和 1.33 MeV 的单能伽马射线，但源的有限厚度以及不可避免地存在于辐照器中的封装材料和其他周围结构可以贡献大量的低能伽马射线辐射，主要通过康普顿散射 (1, 2).3 在电子设备的辐射硬度测试中，伽马能谱的这种低能光子分量可能会给被测设备带来显着的剂量测定误差，因为平衡吸收剂量是通过由于吸收剂量增强效应，剂量计可能与被测设备中沉积的吸收剂量有...
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