GB/T 11114-1989
人造石英晶体位错的X 射线形貌检测方法已作废

Method for detecting dislocations of synthetic quartz using X-ray topographic technique

GB/T 11114-1989 发布历史

本标准规定了观测人造石英晶体的位错、划痕、层错、孪晶、沉淀物和生长条纹等缺陷和估算其位错密度的X射线衍射形貌方法。 本标准适用于人造石英晶体及天然石英晶体位错密度等缺陷的检测。

GB/T 11114-1989由国家质检总局 CN-GB 发布于 1989-03-31，并于 1990-03-01 实施，于 2017-12-15 废止。

GB/T 11114-1989在国际标准分类中归属于: 31.020 电子元器件综合。

GB/T 11114-1989的历代版本如下：

• 1989年03月31日 GB/T 11114-1989 人造石英晶体位错的X 射线形貌检测方法

标准号

GB/T 11114-1989

发布日期

1989年03月31日

实施日期

1990年03月01日

废止日期

2017-12-15

中国标准分类号

L32

国际标准分类号

31.020

发布单位

CN-GB

适用范围

本标准规定了观测人造石英晶体的位错、划痕、层错、孪晶、沉淀物和生长条纹等缺陷和估算其位错密度的X射线衍射形貌方法。 本标准适用于人造石英晶体及天然石英晶体位错密度等缺陷的检测。

GB/T 11114-1989系列标准