GB/T 12636-1990
微波介质基片复介电常数带状线测试方法

Stripline test method for complex permittivity of microwave dielectric substrates

GBT12636-1990, GB12636-1990


GB/T 12636-1990 中,所使用到的仪器:

 

高低温导体电阻率测试仪

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品牌:冠测

型号:GDW-500

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高低温试验台-GDW-250

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品牌:冠测

型号:GDW-250

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高温熔体电阻率仪

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品牌:冠测

型号:GDW-250

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玻璃高温电阻率测试仪

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品牌:冠测

型号:GDW-250

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新款自动高低温试验台

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品牌:冠测

型号:GDW-250

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全自动高低温试验机GDW-250

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品牌:冠测

型号:GDW-250

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高低温电阻率试验台

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品牌:冠测

型号:GDW-250

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GB/T 12636-1990 中,可能用到以下仪器设备

 

 工频介电常数介质损耗测试仪

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北京智德创新仪器设备有限公司

 

RUFUTO-871介电常数分析仪

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DT/仪思奇(北京)科技发展有限公司

 

GB/T 12636-1990

标准号
GB/T 12636-1990
别名
GBT12636-1990
GB12636-1990
发布
1990年
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 12636-1990
 
 
本标准规定了微波介质基片复介电常数的带状线测试方法。 本标准适用于测试各种基片(如塑料、复合材料、陶瓷、硅酸盐和其他单晶体材料等)在微波频率下的复介电常数。 测试频率范围:f=1~20GHz 测试介电常数范围:ε'=2~25 测试损耗角正切范围:tanδe=5×10-4~1×10

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