GB/T 12636-1990
微波介质基片复介电常数带状线测试方法

Stripline test method for complex permittivity of microwave dielectric substrates

GB/T 12636-1990 发布历史

本标准规定了微波介质基片复介电常数的带状线测试方法。 本标准适用于测试各种基片（如塑料、复合材料、陶瓷、硅酸盐和其他单晶体材料等）在微波频率下的复介电常数。 测试频率范围：f=1～20GHz 测试介电常数范围：ε＇＝2～25 测试损耗角正切范围：tanδ＝5×10～1×10

GB/T 12636-1990由国家质检总局 CN-GB 发布于 1990-12-28，并于 1991-10-01 实施。

GB/T 12636-1990 在中国标准分类中归属于: L04 基础标准与通用方法。

GB/T 12636-1990的历代版本如下：

• 1990年12月28日 GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法

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标准号

GB/T 12636-1990

发布日期

1990年12月28日

实施日期

1991年10月01日

废止日期

无

中国标准分类号

L04

发布单位

CN-GB

适用范围

本标准规定了微波介质基片复介电常数的带状线测试方法。 本标准适用于测试各种基片（如塑料、复合材料、陶瓷、硅酸盐和其他单晶体材料等）在微波频率下的复介电常数。 测试频率范围：f=1～20GHz 测试介电常数范围：ε＇＝2～25 测试损耗角正切范围：tanδ_e＝5×10^-4～1×10^-2

GB/T 12636-1990系列标准

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