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X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品,使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子,可以测量光电子的能量,以光电子的动能为横坐标,相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图,从而获得待测物组成。XPS主要应用是测定电子的结合能来实现对表面元素的定性分析,包括价态。...
XPS可以用来测量:表面的元素构成(通常范围为1纳米到10纳米)纯净材料的实验式不纯净表面的杂质的元素构成表面每一种元素的化学态和电子态表面元素构成的均匀性进行X射线光电子能谱技术可以采用商业公司或个人制造的XPS系统,也可采用一个基于同步加速器的光源和一台特别设计的电子分析器组合而成。商业公司制造的XPS系统通常采用光束长度为20至200微米的单色铝Kα线,或者采用10至30微米的复色镁射线。...
清华大学分析中心表面分析室主任姚文清致开幕词X射线光电子能谱(XPS)被广泛用于材料的表面分析。近十年来,我国XPS谱议数量及XPS相关的学术论文数量呈现飞跃式发展趋势。为了帮助X射线光电子能谱仪的操作者规范地使用XPS谱仪,准确地进行典型样品有效和有意义的XPS分析,刘芬老师对国家标准《X射线光电子能谱分析指南》进行了解读与宣贯。...
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