BS ISO 25498:2018
跟踪更改 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析

Tracked Changes. Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope


BS ISO 25498:2018 中,可能用到以下仪器设备

 

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JEM-2100Plus 透射电子显微镜

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JEM-1000 超高压透射电子显微镜

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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

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FEI Titan ETEM G2 透射电子显微镜

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BS ISO 25498:2018

标准号
BS ISO 25498:2018
发布
2018年
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS ISO 25498:2018
 
 
引用标准
ASTM E3-11 ISO 15932:2013 ISO/IEC 17025
被代替标准
BS ISO 25498:2010

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