Si(Li)探测器类的 X 射线能谱仪已广泛地应用于电子探针和扫描电镜的分析领域,据不完全统计, 我国大约有500多台 X 射线能谱仪与电子探针或扫描电镜(包括透视电子显微镜)联用,已成为最为主要的微区元素分析的工具,发挥了重要的作用。但也存在着分析结果上的明显缺陷,严重地影响定量分析的质量,并导致许多不应有的研究成果谬误的 ...
通常来说,电子探针-能谱定量分析可能比较容易,而对于扫描电镜能谱定量分析,则难度较大,但也是完全可以实现的。 GB/T 20726-2006 ISO 15632:2002微束分析-半导体探测器X射线能谱仪通则,该标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的量值。...
比较重的元素诸如很多金属和稀土元素的分析结果可以认为是定量的。上海硅酸盐研究所的李香庭教授对SEM和电子探针的EDS分析结果做过比较系统的讲述,我摘抄如下:EDS分析的最低含量是0.x%(注:这个x是因元素不同而有所变化的。)“电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则”国家标准,规定了EDS的定量分析的允许误差(不包括含超轻元素的试样)。...
比较重的元素诸如很多金属和稀土元素的分析结果可以认为是定量的。上海硅酸盐研究所的李香庭教授对SEM和电子探针的EDS分析结果做过比较系统的讲述,我摘抄如下:EDS分析的最低含量是0.x%(注:这个x是因元素不同而有所变化的。)“电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则”国家标准,规定了EDS的定量分析的允许误差(不包括含超轻元素的试样)。...
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