产品描述
Camtek先进的校准和诉讼机制结合专用的检验和计量能力解决挑战性的Fan-out
的过程。
我们的系统支持表面检验能力和独特的计量信息死层之间结合位置对齐数据。
系统生成各种报告,增加产量和提高产量。
功能
•RDL检查和计量
•检查多层晶片
•多种光学设置所有步骤和缺陷类型
•3 d高度和co-planarity测量
•死位置测量
技术
•Camtek独特的白光三角测量传感器
•先进的缺陷检测和计量处理引擎
•高分辨率三维共焦传感器
•光干涉测量技术对3 d
产品
Eagle-AP提供2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。
Eagle-i
zui先进的2 d表面缺陷检验和计量系统,实现高容量生产前2 d检查解决方案和post-bumped晶片,探针标记检查,OQc等等。
为先进的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。
设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个zui快的和zui精确的2 d检查工具在市场上。
咨询：182 6326 2536（微信同号）
