分析测试百科网

搜索

喜欢作者

微信支付微信支付
×

TEM分析中电子衍射花样的标定原理: 高阶劳埃斑

2018.6.30
头像

JMCA

致力于为分析测试行业奉献终身

高阶劳埃斑

以入射束与反射球的交点作为原点,构造出与晶体对应的倒易点阵。则对于正空间中的任一晶带轴,与之垂直而且过倒易空间的原点的倒易面,称之为该晶带的零层倒易面,该倒易面上的所有晶面与晶带轴之间满足晶带轴定律,通常我们得到的某晶带轴的电子衍射花样就是该晶带轴的零层倒易面。对于任一晶带轴而言,除了零层倒易面之外,所有与零层倒易面平行的倒易平面都与之垂直,但这些倒易面与晶带轴之间不满足晶带轴定律,它们之间的关系满足广义晶带轴定律,所有与零层倒易面平行的倒易平面统称为高层倒易面。

高层倒易面中的倒易阵点由于某些原因也有可能与倒易球相交而形成附加的电子衍射斑点,这就是高阶劳埃斑。

高阶劳埃带形成的示意图

640?wx_fmt=png&tp=webp&wxfrom=5&wx_lazy=1

劳埃斑产生的原因:

1.由于薄膜试样的形状效应,使倒易阵点变长,这种伸长的倒易杆增加了高层倒易面上倒易点与反射球相交的机会;

2.晶格常数很大的晶体,其倒易阵点排列更密,倒易面间距更小,使得上下两层倒易面与零层倒易面同时与反射球相交的机会增加;

3.当电子衍射花样不正,使得零层倒易面倾斜时,增加了高层倒易阵点与反射球的相交机会;

4.电子波的波长越长,则反射球的半径会越小,这样也会增加高层倒易面上的倒易点与反射球相交后仍然能在底片处成像的机会。



互联网
仪器推荐
文章推荐