快扫描循环伏安法和常规循环伏安法相比有显著不同之处, 二者对实验条件的要求也不一样。
1. 恒电位仪
由于快扫描循环伏安实验时采用的扫描速度极高, 通常为几万伏/ 秒甚至更高, 现在商品化的恒电位仪很难达到这样高的扫速, 如PAR M370电化学系统最高只能达到100V/S, 而PA RM270电化学系统最高扫速只有40 V/S。因此, 必须根据实际要求自行组装恒电位仪。
2. 记录仪
由于扫描速度极高, 通常的记录仪已难以记录扫描时的循环伏安图。一般情况下用示波器观察扫描时波形的变化, 最好用具有储存功能的示波器记录, 然后将数据送到微机进行处理。
3. 充电电流的消除
由于双电层充电电流与扫描速度v 成正比, 而法拉弟电流在受扩散控制的情况下与扫描速度V 1/2成正比, 所以扫描速度极高时, 充电电流将很大, 信噪比下降, 这必将影响对法拉弟电流的测量。因此, 必须消除充电电流的影响。
4. 电极
快扫描循环伏安法中使用的电极必须是微电极或超微电极。主要有Pt 微电极, 碳纤维微电极和金微电极； 形状主要以圆盘状为主, 但也有柱状和带状的。使用微电极的好处主要有：一是因为微电极产生的电流较小, 这样可以消除iR 降的影响； 二是由于微电极的双电层电容较小, 这样可以降低电解池的时间常数, 以减小双电层充电电流的干扰。对于圆盘电极, 电解池常数和iR 降随电极半径的减小而降低。
5. iR降的校正
在快扫描循环伏安法中, 虽然采用了具有较小iR 降的微电极, 但也只能在一定程度上降低iR 降的影响。当扫描速度达到数十K V/S 或M V/S 时, 流过体系的电流也会较大，这时必须校正iR 降的影响, 特别是在研究某些表面反应时,iR 降的校正就显得尤为重要。
首页
