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认真做好每一件喜欢的事，把每一件要做的事都变成喜欢并认真去做的事
半导体参数仪是一种用于物理学领域的科学仪器，于2015年9月17日启用。
4200-SCS/F半导体特性分析系统主机，2个高分辨率中功率SMU 最大电流100mA，最大电压200V，最大功率2W 4200-SMU高分辨率中功率SMU（源测量单元） 最大电流100mA；最大电压200V；最大功能2W；配置有4200-PA，扩展电流分辨率至0.1fA 4200-CVU C-V测试单元，扫描频率范围1KHZ-10MHz。
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