负离子热表面电离质谱法是近年发展的质谱技术,可以用于金属同位素年龄的研究,为年代学的研究提供了有力保障[19]。和ICP-MS 不同,该法是通过质谱对
待测元素的负离子进行测试的。由于元素形成负离子所需的能量较形成正离子的能量低很多,所以离子化率高,检出限比ICP-MS低。
Creaser用NTIMS分析Re2Os 体系,他们的离子产率分别为:2 %～6 %(Os) , > 20 % (Re) ,检出限达 pg/ml[20]。由于该法分析Re2Os 没有同量异位干扰,不需要分离 Os和Re ,简化了整个分析流程。尽管高纯金属多元素的分析越来越多地用等离子体质谱法测定,但是等离子体质谱法存在Os和Re 同位素的同量异位干扰问题,所以能精确测试 Os和Re 的NTIMS方法有不可取代的作用。
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