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认真做好每一件喜欢的事,把每一件要做的事都变成喜欢并认真去做的事
分析某些元素时可能会出现和峰,和峰的出现会造成和峰附近的背底变形,如果与其他峰出现重叠,计算结果时即使扣除背底也不能得到满意的结果。此时,需要改变采谱条件,减少计数率,减小和峰对背底的影响,避免和峰的出现。计数率可通过改变束流、更换光阑、调节探测器与样品间的距离等措施来调节。
逃逸峰是探测器在检测过程中产生的,出现在入射峰左边1.734keV处。一般来说,只有原子序数在15~28时才有可能出现逃逸峰。