本期话题
傅立叶变换红外光谱技术以其快速、灵敏、无损的测量特点被广大半导体专业的科学家和工业研发人员所青睐。来自德国的布鲁克作为世界知名的傅立叶变换红外光谱仪器生产商，已在半导体红外分析方法这个前沿领域拥有和积累了几十年丰富经验。从工业用的单晶、多晶硅中的各种杂质超高灵敏度定量分析、钝化层分析、薄膜厚度分析，到基础科研与研发领域的半导体光致发光、检测器表征和硅晶片扫描成像，业内最具口碑和实力的布鲁克VERTEX系列、CryoSAS和SiBrickScan谱仪将为您呈现各种成熟高效的应用方案。
讲堂信息
日期：2017年9月25日（周一）
时间：15:00-16:00
演讲人：布鲁克德国红外光谱应用专家 吴丹博士
讲师简介
2003年本科毕业于浙江大学物理系。
2008年博士毕业于中科院物理所凝聚态物理极端条件实验室，师从王楠林研究员。
2008-2012年，在德国斯图加特大学物理一所从事博士后工作并担任红外光谱研究组组长，期间获得德国洪堡基金会授予的洪堡学者称号和为期两年的基金支助。
从博士阶段开始至博士后工作结束，一直专注于利用低温全谱区傅立叶真空红外技术对半导体、常规超导体、高温超导体单晶/多晶材料的光学性质进行表征。
2012年9月入职布鲁克德国总部，负责中国区高端应用支持，现任中国区技术销售经理。
报名方式
报名方式：
环境配置：电脑、耳麦；
人数限制：100人。
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