TESCAN 分析型4D-STEM技术亮现第五届中国分析测试协会高校分析测试分会青年部大会

TESCAN TEM产品经理柯盼在第二分会场做了《TESCAN集成和旋进辅助分析型4D-STEM》的报告。

报告介绍了TESCAN TENSOR 在材料研发上的应用。新材料的研发以及越来越小的半导体器件的质量评估，在很大程度上依赖于纳米级的相和结构表征。而4D-STEM方法已成为一种强大的技术，能够在纳米级上解析和表征多晶材料中晶相和晶粒取向。TESCAN将提出一种新的方法，集成所有必要的硬件与超高的系统自动化，以最便捷的方式获取和处理4D-STEM数据，可实现实时数据处理和结果可视化。

并邀请对此项新技术感兴趣的老师们参加征稿活动，赢取去捷克布尔诺TESCAN实验中心，体验使用TESCAN TENSOR 做样，由STEM专家协助，一起探讨成就您的科研项目。