KS C 2150-2008(2018)
高频（500mhz∼10ghz）介质薄膜介电常数和介电损耗的测量方法
Measuring method of dielectric constant and dielectric loss of dielectric thin film at the high frequency ranges(500 MHz∼10 GHz)
KS C 2150-2008(2018) 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- KS C 2150-2008(2018)
- 发布
- 2008年
- 发布单位
- 韩国科技标准局
- 替代标准
- KS C 2150-2008(2023)
- 当前最新
- KS C 2150-2008(2023)
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