碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
找不到引用T/CASAS 013-2021 碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法 的标准
因此,离子色谱法作为一种重要的检测方法也被引入到材料的检测与分析中。本文为大家简单介绍离子色谱法在常见的几种材料检测中的应用案例。01氮化硅提取液中阴离子的测定氮化硅是一种重要的新型结构陶瓷材料。它具有高密度、超硬度、润滑性、耐磨损、耐腐蚀和耐高温且不易传热等优点,可用于制造轴承、气轮机叶片、永久性模、陶瓷密封环、等机械构件以及热电偶管、火箭喷嘴、熔解金属的坩埚等高温零部件。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved 京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号