GB/T 5201-1994
带电粒子半导体探测器测试方法

Test procedures for semiconductor charged particle detectors


说明:

  • 此图仅显示与当前标准最近的5级引用;
  • 鼠标放置在图上可以看到标题编号;
  • 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小;
  • 表示标准的节点,可以拖动;
  • 绿色表示标准:GB/T 5201-1994 , 绿色、红色表示本平台存在此标准,您可以下载或者购买,灰色表示平台不存在此标准;
  • 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。

GB/T 5201-1994



标准号
GB/T 5201-1994
发布日期
1994年12月22日
实施日期
1995年10月01日
废止日期
2012-11-01
中国标准分类号
F80
国际标准分类号
17.240
发布单位
CN-GB
代替标准
GB/T 5201-2012
适用范围
本标准规定了带电粒子半导体探测器电特性和核辐射性能的测试方法以及某些特殊环境的试验方法。 本标准适用于探测带电粒子的部分耗尽金硅面垒型、锂漂移金硅面垒型和表面钝化离子注入平面硅型等半导体探测器。

GB/T 5201-1994系列标准


GB/T 5201-1994 中可能用到的仪器设备


谁引用了GB/T 5201-1994 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号