GB/T 5201-1994
带电粒子半导体探测器测试方法
Test procedures for semiconductor charged particle detectors
GB/T 5201-1994 发布历史
本标准规定了带电粒子半导体探测器电特性和核辐射性能的测试方法以及某些特殊环境的试验方法。 本标准适用于探测带电粒子的部分耗尽金硅面垒型、锂漂移金硅面垒型和表面钝化离子注入平面硅型等半导体探测器。
GB/T 5201-1994由国家质检总局 CN-GB 发布于 1994-12-22，并于 1995-10-01 实施，于 2012-11-01 废止。
GB/T 5201-1994 在中国标准分类中归属于: F80 核仪器与核探测器综合，在国际标准分类中归属于: 17.240 辐射测量。
GB/T 5201-1994的历代版本如下：
- 1994年12月22日 GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法
- 2012年06月29日 GB/T 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法
GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法 于 2012-06-29 变更为 GB/T 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法。
- 标准号
- GB/T 5201-1994
- 发布日期
- 1994年12月22日
- 实施日期
- 1995年10月01日
- 废止日期
- 2012-11-01
- 中国标准分类号
- F80
- 国际标准分类号
- 17.240
- 发布单位
- CN-GB
- 代替标准
- GB/T 5201-2012
- 适用范围
- 本标准规定了带电粒子半导体探测器电特性和核辐射性能的测试方法以及某些特殊环境的试验方法。 本标准适用于探测带电粒子的部分耗尽金硅面垒型、锂漂移金硅面垒型和表面钝化离子注入平面硅型等半导体探测器。