GB/T 5201-1994
带电粒子半导体探测器测试方法
Test procedures for semiconductor charged particle detectors
- 标准号
- GB/T 5201-1994
- 发布日期
- 1994年12月22日
- 实施日期
- 1995年10月01日
- 废止日期
- 2012-11-01
- 中国标准分类号
- F80
- 国际标准分类号
- 17.240
- 发布单位
- CN-GB
- 代替标准
- GB/T 5201-2012
- 适用范围
- 本标准规定了带电粒子半导体探测器电特性和核辐射性能的测试方法以及某些特殊环境的试验方法。 本标准适用于探测带电粒子的部分耗尽金硅面垒型、锂漂移金硅面垒型和表面钝化离子注入平面硅型等半导体探测器。