ASTM F1844-97(2016)
使用非接触式涡流量规测量平板显示器制造薄膜导体薄片电阻的标准实践

Standard Practice for Measuring Sheet Resistance of Thin Film Conductors For Flat Panel Display Manufacturing Using a Noncontact Eddy Current Gage


标准号
ASTM F1844-97(2016)
发布
2016年
发布单位
美国材料与试验协会
当前最新
ASTM F1844-97(2016)
 
 
引用标准
ASTM F673
适用范围
1.1 本实践描述了测量沉积在大型绝缘基板(玻璃或塑料)上的溅射导电薄膜的薄层电阻的方法,用于制造平板信息显示器。
1.2 本实践旨在与测试方法 F673 一起使用。这种做法属于“手动”测量程序,其中操作员将测量头放置在测试样本上,然后亲自启动测试设备。所得到的测试数据可以由操作员制成表格,或者发送到基于计算机的数据记录系统。测试方法 F673 的方法 I 和 II(测试方法 F673 的第 3.1 至 3.3.3 段)均适用于本实践。
1.3 可以通过这种做法测量每平方 0.020 至 3000 Ω 范围内的薄层电阻率(每平方范围为 3 × 10-4 至 50 欧姆的薄层电导)。假定被探测区域的薄层电阻是均匀的。注 1——如本实践中所述,典型的手动测试单位以“欧姆每平方”为单位进行测量和报告;这是“每平方欧姆”的倒数。
1.4 此做法仅适用于平坦表面。
1.5 这种做法是非破坏性的。它可以用在生产面板上以帮助确保生产的一致性。
1.6 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.7 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

ASTM F1844-97(2016)相似标准


推荐

优尼康UNICORN2022年终感恩回馈 | 多重福利等您领取!

应用:半导体制造(光刻胶、氧化物/氮化物/SOI、晶圆背面研磨);LCD 液晶显示器(聚酰亚胺、ITO 透明导电膜);光学镀膜(硬涂层、抗反射层);MEMS 微机电系统(光刻胶、硅系膜层)。 R50四探针电阻测量仪Filmetrics R50 系列提供接触四点探针 (4PP) 和接触涡流 (EC)测量。最快 1 点/秒速度映射导电膜电阻率/电导率。...

2023 SEMICON CHINA即将开展,优尼康邀您相聚上海

相关应用:薄膜/厚膜台阶;蚀刻深度量测;光阻/光刻胶台阶;柔性薄膜;表面粗糙度/平整度表征;表面曲率和轮廓分析;薄膜2D stress量测;表面结构分析;表面的3D轮廓成像;缺陷表征和缺陷分析。 R50四探针电阻测量仪Filmetrics R50 系列提供接触四点探针 (4PP) 和接触涡流 (EC)测量。1 点/秒速度映射导电膜电阻率/电导率。...

【邀请函】优尼康邀您参加8月3-4日苏州太仓·化合物半导体先进技术及应用大会

R50四探针电阻测量仪Filmetrics R50 系列提供接触四点探针 (4PP) 和接触涡流 (EC)测量。最快 1 点/秒速度映射导电膜电阻率/电导率。电动 X-Y 载物台使用标准晶片吸盘定制样品架,最大可测量 300mm 样品,或200mm 面积。...

优尼康邀您参与第十七届慕尼黑上海光博会

相关应用:薄膜/厚膜台阶;蚀刻深度量测;光阻/光刻胶台阶;柔性薄膜;表面粗糙度/平整度表征;表面曲率和轮廓分析;薄膜2D stress量测;表面结构分析;表面的3D轮廓成像;缺陷表征和缺陷分析。 R50四探针电阻测量仪Filmetrics R50 系列提供接触四点探针 (4PP) 和接触涡流 (EC)测量。 1 点/秒速度映射导电膜电阻率/电导率。...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号