找不到引用JS-002-2014 的标准
静电,通常都是人为产生的,如生产、组装、测试、存放、搬运等过程中都有可能使得静电累积在人体、仪器或设备中,甚至元器件本身也会累积静电,当人们在不知情的情况下使这些带电的物体接触就会形成放电路径,瞬间使得电子元件或系统遭到静电放电的损坏(这就是为什么以前修电脑都必须要配戴静电环托在工作桌上,防止人体的静电损伤芯片),如同云层中储存的电荷瞬间击穿云层产生剧烈的闪电,会把大地劈开一样,而且通常都是在雨天来临之际...
随着半导体制程的逐渐高阶化,芯片封装形式的多样化、小型化,ESD(Electro-Static discharge)测试在实际应用场景中出现了诸如不同机台之间分析及对比的差异性、寄生电容对芯片器件的测试结果影响、latchup闩锁效应测试中条件设定逐步复杂化、以及接触式CDM(Charged Device Model)测试方法的演变等等实际问题。...
目前,还没有理论能够解决常用于电化学器件的无序多孔碳材料的纳米孔中限制离子的静电问题。我们提出了一种新的方法来描述亚纳米孔碳电极(Pikunic 2003)在超级电容环境中的充放电过程,我们称之为化学驱动电荷定位模型(CDCL)。...
四、ESD的含义及三种型式ESD的含义ESD是代表英文ElectroStatic Discharge即"静电放电"的意思.ESD是本世纪中期以来形成的以研究静电的产生与衰减、静电放电模型、静电放电效应如电流热(火花)效应(如静电引起的着火与爆炸)及和电磁效应(如电磁干扰)等的学科.近年来随着科学技术的飞速发展、微电子技术的广泛应用及电磁环境越来越复杂,对静电放电的电磁场效应如电磁干扰(EMI...
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