IEC 61760-2:2007
表面安装技术.第2部分:表面安装器件(SMD)的运输和存储条件.使用指南

Surface mounting technology - Part 2: Transportation and storage conditions of surface mounting devices (SMD) - Application guide


标准号
IEC 61760-2:2007
发布
2007年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 61760-2:2021 RLV
当前最新
IEC 61760-2:2021 RLV
 
 
引用标准
IEC 60286-3 IEC 60286-4 IEC 60286-5 IEC 60286-6 IEC 60721-3-1
被代替标准
IEC 91/569/CDV:2005 IEC 61760-2:1998
适用范围
本国际标准描述了表面安装器件 (SMD) 的运输和存储条件,为了实现有源和无源表面安装器件的无故障处理,必须满足这些条件。 (不考虑印刷板的条件。)该标准的目的是确保SMD 用户接收和存储可以进一步处理(例如定位、焊接)的产品,而不影响质量和可靠性。 SMD 运输和储存不当可能会导致劣化并导致组装问题,例如可焊性差、分层和“爆米花”。

IEC 61760-2:2007相似标准


推荐

COB封装LED显示屏优劣及其发展难点

(6)全天候优良特性:采用三重防护处理,防水、潮、腐、尘、静电、氧化、紫外效果突出;满足全天候工作条件,零下30度到零上80度温差环境仍可正常使用。正是这些原因,COB封装技术在显示领域被推向了前台。当前COB技术难题:目前COB在行业积累工艺细节有待提升,也面对一些技术难题。1、封装一次通过率不高、对比度低、维护成本高等;2、其显色均匀性远不如采用分光分色SMD器件贴片后显示屏。...

温度冲击试验实际使用寿命如何换算

下列情况下,可预见快速温度变化:——当设备从温暖室内环境转移到寒冷户外环境,或相反情况时;——当设备遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷却时;——安装于外部机载设备中;——在某些运输贮存条件下。 通电后设备中会产生高温度梯度,由于温度变化,元器件会经受应力,例如,在大功率电阻器旁边,辐射会引起邻近元器件表面温度升高,而其他部分仍然是冷。...

冷热冲击试验实际使用寿命如何换算?(一)

下列情况下,可预见快速温度变化:——当设备从温暖室内环境转移到寒冷户外环境,或相反情况时;——当设备遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷却时;——安装于外部机载设备中;——在某些运输贮存条件下。 通电后设备中会产生高温度梯度,由于温度变化,元器件会经受应力,例如,在大功率电阻器旁边,辐射会引起邻近元器件表面温度升高,而其他部分仍然是冷。...

温度冲击试验标准解读

温度变化原因有很多,相关标准里面都有提及:GB/T 2423.22-2012 环境试验 2部分 试验N:温度变化3 温度变化现场条件电子设备器件中发生温度变化情况很普遍。当设备未通电时,其内部零件要比其外表面零件经受温度变化慢。...


谁引用了IEC 61760-2:2007 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号