BS EN 60749-7:2002
半导体器件.机械和气候试验方法.其他残余气体的内部湿气含量的测量和分析

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

2011-09

说明：

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标准号
BS EN 60749-7:2002
发布
2002年
发布单位
英国标准学会
替代标准
BS EN 60749-7:2011
当前最新
BS EN 60749-7:2011
 
 
IEC 60749 这部分的目的是测试和测量金属或陶瓷密封设备内部大气中的水蒸气和其他气体含量。 它适用于以这种方式密封的半导体器件，但通常仅用于高可靠性应用，例如军事或航空航天。 它可以是破坏性的（方法 1 和 2）或非破坏性的（方法 3）。

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