BS EN 60749-7:2002
半导体器件.机械和气候试验方法.其他残余气体的内部湿气含量的测量和分析

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

被代替

BS EN 60749-7:2002 发布历史

BS EN 60749-7:2002由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2002-08-30，并于 2002-08-30 实施，于 2011-09-30 废止。

BS EN 60749-7:2002 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

BS EN 60749-7:2002的历代版本如下：

• 2018年 BS EN IEC 60749-12:2018 半导体器件.机械和气候试验方法.振动,可变频率
• 2002年 BS EN 60749-12:2002 半导体装置.机械和气候试验方法.变频率振动
• 1999年 BS EN 60749:1999 半导体装置.机械和气候试验方法
• 0000年 BS 6493-3:1986

IEC 60749 这部分的目的是测试和测量金属或陶瓷密封设备内部大气中的水蒸气和其他气体含量。 它适用于以这种方式密封的半导体器件，但通常仅用于高可靠性应用，例如军事或航空航天。 它可以是破坏性的（方法 1 和 2）或非破坏性的（方法 3）。

标准号

BS EN 60749-7:2002

发布

2002年

发布单位

英国标准学会

替代标准

BS EN 60749-7:2011

当前最新

BS EN 60749-7:2011

 

 

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