BS EN 60749-7:2002
半导体器件.机械和气候试验方法.其他残余气体的内部湿气含量的测量和分析

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

被代替

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标准号

BS EN 60749-7:2002

发布

2002年

发布单位

英国标准学会

替代标准

BS EN 60749-7:2011

当前最新

BS EN 60749-7:2011

 

 

适用范围

IEC 60749 这部分的目的是测试和测量金属或陶瓷密封设备内部大气中的水蒸气和其他气体含量。 它适用于以这种方式密封的半导体器件，但通常仅用于高可靠性应用，例如军事或航空航天。 它可以是破坏性的（方法 1 和 2）或非破坏性的（方法 3）。

推荐

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