IS 12860-1989
X射线荧光技术法测定金属镀层厚度
Determination of metal coating thickness using X-ray fluorescence technique
IS 12860-1989 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- IS 12860-1989
- 发布
- 1990年
- 发布单位
- IN-BIS
- 当前最新
- IS 12860-1989
- 1.1 本方法涵盖使用 X 射线荧光 (XRF) 技术来确定金属涂层的厚度。该技术适用于静止和移动样品。 1.2 本标准适用于单位面积涂层质量和涂层厚度的测定。这里提出的一般原则适用于确定任何基材（金属或非金属）上的大多数金属涂层的厚度。给定涂层的最大可测量厚度是这样的厚度，超过该厚度，特征二次X射线的强度不再随着厚度的增加而发生显着的变化。
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