IS 12860-1989由IN-BIS 发布于 1990-5-1。
IS 12860-1989 X射线荧光技术法测定金属镀层厚度的最新版本是哪一版？
最新版本是 IS 12860-1989 。
1.1 本方法涵盖使用 X 射线荧光 (XRF) 技术来确定金属涂层的厚度。该技术适用于静止和移动样品。
1.2 本标准适用于单位面积涂层质量和涂层厚度的测定。这里提出的一般原则适用于确定任何基材（金属或非金属）上的大多数金属涂层的厚度。给定涂层的最大可测量厚度是这样的厚度，超过该厚度，特征二次X射线的强度不再随着厚度的增加而发生显着的变化。
Vanta新型Vanta系列仪器性能改进：坚固耐用，高效多产仪器配备SD存储卡可使用WI-FI，蓝牙(Bluetooth)适配器进行数据传输可使用USB闪存盘进行方便快速的数据传输Axon技术提高分析结果的精准性IP 65/64—防尘防水坠落测试(MIL-STD-810G) 探测器快门闸保护及聚酰亚胺网眼保护奥林巴斯手持式X射线荧光分析仪可对包括镁和铀在内的很多元素进行快速无损分析，可检测出的含量从百万分率到...
X射线荧光法（XRF）镀层测厚仪：能量X荧光光谱侧厚法(质量膜厚) 测试原理：XRF镀层测厚仪测厚是通过X射线激发各种物质（如Mo、Ag、Mn）的特征X射线，然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性，测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片（或者对比样）对比得出各物质的厚度，这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。...
对某种金属镀层样品进行测量时，基于镀层厚度、状态的不同，所产生的荧光X射线的强度也不一样。镀层厚度测量时，可采用两种不同方法，一种是注重镀层中的元素所产生的荧光X射线强度，称为激发法。另一种是注重底材中的元素所产生的荧光X射线强度，称为吸收法。这两种方法的应用必需根据镀层和底材的不同组合来区分使用。镀层厚度测量时，测量已知厚度的标准样品而得到其厚度及产生的荧光X射线强度之间的关系，并做出标准曲线。...
X射线荧光法，一直是元素分析的重要方法，同时也适用于样品涂镀层厚度及成分分析。如果您在如下行业中从事分析测试工作：1. 贵金属、珠宝首饰黄金分析，贵金属合金分析，珠宝镀层分析，铂金上的铑镀层分析2. 钢铁、五金电镀钢材镀锌/铬、铝材镀锆/钛、哈式合金镀层厚度测定3. 装饰材料：装饰涂层分析4. ...
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