X射线荧光法(XRF)镀层测厚仪:能量X荧光光谱侧厚法(质量膜厚) 测试原理:XRF镀层测厚仪测厚是通过X射线激发各种物质(如Mo、Ag、Mn)的特征X射线,然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性,测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片(或者对比样)对比得出各物质的厚度,这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。...
对某种金属镀层样品进行测量时,基于镀层厚度、状态的不同,所产生的荧光X射线的强度也不一样。镀层厚度测量时,可采用两种不同方法,一种是注重镀层中的元素所产生的荧光X射线强度,称为激发法。另一种是注重底材中的元素所产生的荧光X射线强度,称为吸收法。这两种方法的应用必需根据镀层和底材的不同组合来区分使用。镀层厚度测量时,测量已知厚度的标准样品而得到其厚度及产生的荧光X射线强度之间的关系,并做出标准曲线。...
X射线金属镀层测厚仪,X射线经过镀层界面,根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难(信号分不开)。测试镀层厚度要考虑镀层材质和镀层密度等因素,如果各因素都不确定是无法分析的。...
X荧光测厚仪采用了磁性测厚法:是一种超小型丈量仪,X荧光测厚仪能快速,无损伤,切确地进行铁磁性金属基体上的喷涂.电镀层厚度的丈量,可普遍用于制造业,金属加工业,化工业,商检等检测领域.出格适用于工程现场丈量。 X荧光测厚仪采用二次荧光法:它的原理是物资经X射线或粒子射线照射后,由于吸收过剩的能量而酿成不稳定的状态。...
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