JIS K 0190:2010
微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法对质量点分析用指南

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

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标准号: JIS K 0190:2010
发布: 2010年
发布单位: 日本工业标准调查会
当前最新: JIS K 0190:2010

引用标准: ISO 17470:2004

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