JIS K0190-2010
微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法对质量点分析用指南

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 JIS K0190-2010 前三页，或者稍后再访问。

如果您需要购买此标准的全文，请联系： 。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

JIS K0190-2010

发布日期

2010年04月20日

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

A42

国际标准分类号

71.040.99

发布单位

JP-JISC

引用标准

ISO 17470-2004

JIS K0190-2010 中可能用到的仪器设备