JIS K0190-2010
微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法对质量点分析用指南

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

JIS K0190-2010 发布历史

JIS K0190-2010由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 2010-04-20。

JIS K0190-2010 在中国标准分类中归属于: A42 物理学与力学，在国际标准分类中归属于: 71.040.99 有关分析化学的其他标准。

JIS K0190-2010 发布之时，引用了标准

• ISO 17470-2004 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法分析质量点的指南

JIS K0190-2010的历代版本如下：

• 2010年04月20日 JIS K0190-2010 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法对质量点分析用指南

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标准号

JIS K0190-2010

发布日期

2010年04月20日

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

A42

国际标准分类号

71.040.99

发布单位

JP-JISC

引用标准

ISO 17470-2004

JIS K0190-2010 中可能用到的仪器设备