静态二次离子质谱法中相对强度范围的重复性和稳定性 英国标准学会,关于质谱中相对强度的标准 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 23830-2008 表面化学分析.次级离子质谱法.静态次级离子质谱法中相对强度数值范围的重复性和稳定性...
二次离子质谱 (Secondary Ion Mass Spectrometry,SIMS) 是一种材料表面化学分析技术,它依赖于收集和分离从材料表面产生的二次离子, 根据检测到的离子的质荷比 (m/z)而给出材料表面成分信息。飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)是质谱分析的其中一种方法或者是其中一种类型的质谱分析仪。固体表面激发的二次离子是双束聚焦离子束轰击样品所产生的信号之一。...
4、离子探针:离子探针是用聚焦的离子束作为微探针轰击样品表面,测射出原子及分子的二次离子,在磁场中按质荷比分开,可获得材料微区质谱图谱及离子图像,再通过分析计算求得元素的定性和定量信息。成像离子探针适用于许多不同类型的样品分析,包括金属样品、半导体器件及非导体样品等。 ...
1、色谱分析法2、质谱分析法· 质谱分析法是将不同质量的离子按质荷比(m/z)的大小顺序收集和记录下来,得到质谱图,用质谱图进行定性、定量分析及结构分析的方法。·质谱分析法是物理分析法,早起主要用于相对原子质量的测定和某些复杂化合物的鉴定和结构分析。·随着GC和HPLC等仪器和质谱仪联机成功以及计算机的飞速发展,使得质谱法成为分析、鉴定复杂混合物的最有效工具。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号