找不到引用IEC 61967-8:2011 集成电路的电磁辐射测量.第8部分:IC带状线法测量辐射干扰 的标准
2)TEM小室方法:辐射场强度的测量应该在屏蔽室中进行,以消除来自电气设备和广播站的附加干扰。TEM 小室的工作如同屏蔽室一样。3)带状线法方法:带状线是开方式的波导,由一个接地平板和一个主导电体(隔板)构成,有特征阻抗。一般采用的特征阻抗值是50Ω和90Ω 。目前关于零部件/模块的辐射骚扰测量的常见方法主要是:ALSE方法、TEM小室方法、带状线法。...
)法制订2022/8/515220214344-T-320金融服务 唯一交易识别码制订2022/8/515320214607-T-604设施管理 管理体系 要求及使用指南制订2022/8/515420214069-T-339集成电路 电磁发射测量 第3部分:辐射发射测量 表面扫描法制订2022/8/515520214064-T-339集成电路 电磁发射测量 第8部分:辐射发射测量 带状线法制订2022...
主要的应用有:微带匹配网络、微带电路、微带滤波器、带状线电路、带状线滤波器、过孔(层的连接或接地)、偶合线分析、PCB板电路分析、PCB 板干扰分析、桥式螺线电感器、平面高温超导电路分析、毫米波集成电路( MMIC) 设计和分析、混合匹配的电路分析、HDI 和LTCC 转换、单层或多层传输线的精确分析、多层的平面的电路分析、单层或多层的平面天线分析、平面天线阵分析、平面偶合孔的分析等。...
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