ASTM F1467-11
半导体装置及集成电路电离辐射效应X射线测试仪(≈10 keV光子量)的标准使用指南
Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (x2248;10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
- 标准号
- ASTM F1467-11
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM F1467-18
- 当前最新
- ASTM F1467-18
- 引用标准
- ASTM E1249 ASTM E170 ASTM E1894 ASTM E666 ASTM E668
- 许多太空、军事和核电系统中使用的电子电路可能会暴露在不同水平的电离辐射剂量下。对于此类电路的设计和制造来说，必须有可用的测试方法来确定此类系统中使用的组件的易损性或硬度（非易损性的度量）。制造商目前正在销售具有保证硬度等级的半导体零件，并且军用规格系统正在扩展以涵盖零件的硬度规格。因此，需要测试方法和指南来标准化资格测试。低能量 (≈10 ke...
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能谱图分析
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