VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010
微形貌的光学测量 共焦显微镜的校准和粗糙度测量的深度设置标准

Optical measurement of microtopography - Calibration of confocal microscopes and depth setting standards for roughness measurement


VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 中,可能用到以下仪器

 

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尼康仪器(上海)有限公司

 

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尼康仪器(上海)有限公司

 

VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010

标准号
VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010
发布
2010年
发布单位
德国机械工程师协会
当前最新
VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010
 
 
该指南描述了共焦显微镜的校准程序和粗糙度测量的深度设定标准,从而为测量系统追溯至国家标准奠定了基础。首先描述校准能力的确定过程。规定了校准的进一步基本条件以及校准程序的最低要求。最后明确了校准报告的要求。用于确定测量不确定度的 GUM 保形模型完成了说明。

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