ISO 18452:2005
精密陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).用接触式探针轮廓测定仪测定陶瓷覆层厚度

Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer


哪些标准引用了ISO 18452:2005

 

ISO 21859:2019 精细陶瓷（先进陶瓷 先进技术陶瓷） - 半导体制造设备中陶瓷部件的等离子体电阻试验方法BS ISO 19674:2017 精细陶瓷（高级陶瓷、高级技术陶瓷） 陶瓷涂层的试验方法 应用Stoney公式测定陶瓷涂层中的内应力DIN EN ISO 26423:2016 精细陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).用坑状磨削法测定涂层厚度(ISO 26423-2009).德文版本EN ISO 26423-2016EN ISO 26423:2016 精细陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).用坑状磨削法测定涂层厚度BS ISO 20507:2014 精细陶瓷 (高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 词汇ISO 20507:2014 细陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).词汇
ISO 18452:2005
标准号
ISO 18452:2005
发布
2005年
发布单位
国际标准化组织
当前最新
ISO 18452:2005
 
 
引用标准
ISO 3274
本国际标准规定了用接触式探针轮廓仪测定精细陶瓷膜和陶瓷涂层膜厚的方法。 该方法适用于10 nm至10 000 nm范围内的薄膜厚度。 注：该方法要求基材的涂层部分和未涂层部分之间有明显且清晰的边界。

推荐

一文了解EPMA制样要求

(EPMA).词汇　　英国标准学会，关于epma 制样的标准　　BS ISO 23833-2013 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇　　BS ISO 23833-2013 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇　　BS EN 1071-4-2006 高级工业陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.用电子探针微量分析(EPMA)测定化学成分　　法国标准化协会，关于epma 制样的标准　　NF...

ISO 18452:2005 中可能用到的仪器设备

密度计、密度仪 接触角测定仪 四探针测试仪 轮廓仪/粗糙度仪

谁引用了ISO 18452:2005 更多引用

ISO 21859:2019 精细陶瓷（先进陶瓷 先进技术陶瓷） - 半导体制造设备中陶瓷部件的等离子体电阻试验方法 BS ISO 19674:2017 精细陶瓷（高级陶瓷、高级技术陶瓷） 陶瓷涂层的试验方法 应用Stoney公式测定陶瓷涂层中的内应力 DIN EN ISO 26423:2016 精细陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).用坑状磨削法测定涂层厚度(ISO 26423-2009).德文版本EN ISO 26423-2016 EN ISO 26423:2016 精细陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).用坑状磨削法测定涂层厚度 BS ISO 20507:2014 精细陶瓷 (高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 词汇 ISO 20507:2014 细陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).词汇


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号