ISO 18452:2005由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2005-11。
ISO 18452:2005 在中国标准分类中归属于: Q32 特种陶瓷,在国际标准分类中归属于: 81.060.30 高级陶瓷。
本国际标准规定了用接触式探针轮廓仪测定精细陶瓷膜和陶瓷涂层膜厚的方法。 该方法适用于10 nm至10 000 nm范围内的薄膜厚度。 注:该方法要求基材的涂层部分和未涂层部分之间有明显且清晰的边界。
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