KS D ISO 15632-2012
微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范

Microbeam analysis－Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors

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标准号

KS D ISO 15632-2012

发布日期

2012年12月07日

实施日期

2012年12月07日

废止日期

无

中国标准分类号

N50

国际标准分类号

71.040.99

发布单位

KR-KATS

被代替标准

KS D ISO 15632-2007

适用范围

이 표준은 반도체 검출기, 전치증폭기, 신호 처리장치와 같은 기본 부품으로 구성된 에너지