KS D ISO 15632-2012
微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范

Microbeam analysis－Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors

KS D ISO 15632-2012 发布历史

이 표준은 반도체 검출기, 전치증폭기, 신호 처리장치와 같은 기본 부품으로 구성된 에너지

KS D ISO 15632-2012由韩国标准 KR-KATS 发布于 2012-12-07，并于 2012-12-07 实施。

KS D ISO 15632-2012 在中国标准分类中归属于: N50 物质成份分析仪器与环境监测仪器综合，在国际标准分类中归属于: 71.040.99 有关分析化学的其他标准。

KS D ISO 15632-2012的历代版本如下：

• 2012年12月07日 KS D ISO 15632-2012 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范
• 2018年05月23日 KS D ISO 15632-2018 微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数

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标准号

KS D ISO 15632-2012

发布日期

2012年12月07日

实施日期

2012年12月07日

废止日期

无

中国标准分类号

N50

国际标准分类号

71.040.99

发布单位

KR-KATS

被代替标准

KS D ISO 15632-2007

适用范围

이 표준은 반도체 검출기, 전치증폭기, 신호 처리장치와 같은 기본 부품으로 구성된 에너지