KS D ISO 15632:2012
微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范

Microbeam analysis－Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors

被代替

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标准号: KS D ISO 15632:2012
发布: 2012年
发布单位: 韩国科技标准局
替代标准: KS D ISO 15632:2018
当前最新: KS D ISO 15632:2018

被代替标准: KS D ISO 15632:2007

适用范围: 이 표준은 반도체 검출기, 전치증폭기, 신호 처리장치와 같은 기본 부품으로 구성된 에너지

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