BS PD IEC/TS 62132-9-2014
集成电路. 电磁抗扰度的测量. 辐射抗扰度的测量. 表面扫描法

Integrated circuits. Measurement of electromagnetic immunity. Measurement of radiated immunity. Surface scan method

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标准号

BS PD IEC/TS 62132-9-2014

发布日期

2014年09月30日

实施日期

2014年09月30日

废止日期

无

中国标准分类号

L56

国际标准分类号

31.200

发布单位

GB-BSI

引用标准

IEC 60050 IEC 62132-1 IEC TS 61967-3 IEC 61967-6 IEC TR 61967-1-1